透射電子顯微鏡部分結構及功能

　　在光學顯微鏡下無法看清小於0。2µm的望遠鏡細微結構，這些結構稱為亞顯微結構(submicroscopic structures)或超微結構(ultramicroscopic structures；ultrastructures)。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡(transmission electron microscope，TEM)，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多顯微鏡，並且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達0。2nm。

　　電子顯微鏡與光學顯微鏡的成放大鏡像原理基本一樣，所不天文望遠鏡同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由於電子束的穿透力很弱，因此用於電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機(ultramicrotome)制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由電子照明系統、電磁透鏡成像系統、真空系統、記錄系統、電源系統等5部分構成，如果細分的話：主體部分是電子透鏡和顯像記錄系統，由置於真空中的電子槍、聚光鏡、物樣室、 物鏡、衍射鏡、中間鏡、 投影鏡、熒光屏和照相機。

　金相顯微鏡　電子顯微鏡是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。 高速的電子的波長比可見光的波長短(波粒二像性)，而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的分辨率(約0。1納米)遠高於光學顯微鏡的分辨率(約200納米)。